本文介绍了影响IGBT并联均流的因素,研究IGBT在并联使用中的静态均流和动态均流。通过并联使用电流的不均流度计算出IGBT并联使用时降额的数据并给出建议。利用PSPICE软件建立系统模型,针对杂散电感和驱动电路对IGBT均流特性的影响进行仿真。最后通过工程样机实测多个IGBT并联的均流值与PSPICE仿真的数据对比,仿真波形和实测数据吻合,验证仿真的真实性,通过试验结果验证了文中所述方法对指导多个IGBT并联应用的有效性。 This article introduces the factors that affect the parallel current sharing of IGBT and studies the static and dynamic current sharing of IGBT in parallel used. Based on the uneven current flow of parallel connection, the derating data of IGBT in parallel used are calculated and suggestions are given. Based on PSPICE software, the system model is established to simulate the influence of stray inductance and driving circuit on the current sharing characteristics of IGBT. Finally, the actual current value of multiple IGBT connected in parallel with the engineering prototype is compared with the data from the PSPICE simulation. The simulation waveforms are consistent with the measured data to verify the authenticity of the simulation. The experimental results verify the method described in the article for the guidance of multiple IGBTs in parallel Effectiveness.
李大伟
上海大学,机电工程与自动化学院,上海
收稿日期:2020年3月5日;录用日期:2020年3月18日;发布日期:2020年3月25日
本文介绍了影响IGBT并联均流的因素,研究IGBT在并联使用中的静态均流和动态均流。通过并联使用电流的不均流度计算出IGBT并联使用时降额的数据并给出建议。利用PSPICE软件建立系统模型,针对杂散电感和驱动电路对IGBT均流特性的影响进行仿真。最后通过工程样机实测多个IGBT并联的均流值与PSPICE仿真的数据对比,仿真波形和实测数据吻合,验证仿真的真实性,通过试验结果验证了文中所述方法对指导多个IGBT并联应用的有效性。
关键词 :IGBT单管,并联,均流,Pspice,仿真
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IGBT借助其高耐压、高电流在逆变器的领域取得了广泛的应用,但是IGBT厂家推出的IGBT模块都是按照电流分段比如400 A、800 A…,由于实际的应用中,我们可能会需求100A、200A、300A、500A、700 A的IGBT,如果选择比较大的IGBT,电流会有一定的浪费,这样对于有些价格要求较高的场合显然不可以接受的。针对某个电流段的电流IGBT大功率应用场合依然有其短板,而在某些对逆变器成本要求严格的低端电动车应用领域,通常会使用小电流IGBT进行多管并联的方法以达到有效降低产品成本的目的。本文主要研究了IGBT驱动电路的参数以及各系统寄生参数对并联应用中IGBT均流特性的影响。
并联IGBT芯片VCEsat的不均性引起它们在输出特性上的差异。因此,在正常的开通状态下,造成了电流的不均衡。如图1所示2个IGBT并联连接。图1的Q1和Q2输出特性,可由下式近似得出 [
V C E Q 1 = V 01 + r 1 × I C 1 (1)
r 1 = V 1 / ( I C 1 − I C 2 ) (2)
V C E Q 2 = V 02 + r 2 × I C 2 (3)
假设
假设上述方程式种
图1. 2个不同输出特性IGBT的组合
图2. 仿真输出电流
IGBT输出特性中的温度特性对电流不均衡的影响较大。VCEsat随结温上升而上升的定义为正温度特性,VCEsat随结温上升而下降的称为负温度特性。图3显示了具正负温度特性的典型输出特性,比较两种IGBT产品的输出特性 [
图3. 结温不同N型、V型IGBT的输出特性 [
IGBT的门极开通门槛电压VGEth在IGBT开通行为中是比较重要的参数,每个IGBT的VGEth都不一样。硬并联的IGBT如图4,使用同一个驱动器进行驱动,假设VGE完全同步,施加在两个IGBT上。这两个IGBT由于VGEth有轻微差异,其开通的时刻就会有差异,有几ns~十几ns的差异 [
图4. IGBT门极驱动硬连接
图5. 门极硬连接导通延迟
并联IGBT驱动每个IGBT使用独立栅极电阻相比所有IGBT公用一个驱动电阻连接方式而言,可以改善动态过程均流 [
图6. 使用独立驱动电阻门极导通延迟
IGBT并联,杂散电感不对称引起的动态电流不平衡主要是发射极环流造成的。发射极环流是由于功率发射极E1、E3之间存在电位差,而该电压差的产生则是因为有较高的di/dt流过Ls1和Ls3在Ls1和Ls3上产生的。T1、T3开通或者关断的时刻,会有换流发生,这时E1和E3会有很短的瞬间有电压差。发射极环流会引起并联IGBT模块严重振荡造成模块损坏,所以要减轻避免发射极环流。以上管开通时刻产生的发射极环流形成分析:下图7中,L1为负载电感,环路2、环路3为D2,D4的续流电流。此时T1,T3同时给指令进行开通,D2,D4会发生反向恢复现象,假设T3领先于T1开通,则反向恢复电流会以图中的环路1穿过Ls1和Ls2。而反向恢复电流的变化率是非常高的,斜率能达到1~5 kA/us,在Ls1和Ls2上产生的电压使E3的电位比E1高 [
图7. 发射极环流示意
发射极环流对门极信号及IGBT开通行为产生的影响(1):当发射极环流发生时,发射极电阻上会有压降,而压降的方向则由环流的方向决定,如下图,Vre1的压降为左高右低,此时
影响(2):IGBT在开通的瞬间,尤其在米勒平台的位置,集电极电流Ic对门极电压的轻微变化极为敏感。右下图9,如果在米勒平台上,对应Ic爬升的区域,Vge出现抖动,则Ic会马上受到影响,Ic变化会导致直流母排杂散电感上的电压变化,导致Vce的形状也可能会出现比较奇怪的波形,最终会影响到开通时刻的动态均流效果。因此发射极环流诱发的驱动回路振荡会影响到IGBT的开关行为,而IGBT的开关行为反过来又会影响驱动回路 [
图8. 发射极反馈门极电阻电压示意
图9. 发射极环流引起震荡波形
门极负反馈电阻所起的负反馈效果:如图8所示,开通T1和T3时,E1和E3的电位都会往上升,最终到达正母线电压,当T3开通速度比T1略快时,E3的电位会比E1高,就能产生图中所示的发射极环流。由于发射极电阻的存在,Vge1会被叠加了一个正的电压,因此T1的开通速度会被加速,同理,Vge3被叠加了负的电压,T3的开通速度会被减慢。而这个变化趋势于之前的假设正好相反就形成了一个负反馈的作用从而一定程度上对开通电流进行均流收敛 [
母线换流回路的杂散电感差异会对并联IGBT动态均流会对产生的影响,对称性并联连接是决定动态均流的关键性问题,以上管开通为例。前一时刻,D2、D4在续流,线路4、线路5所示。后一时刻,T1与T3同时开通,此时D2,D4会发生反向恢复行为,T1,T3的电流会以较高的di/dt上升,如线路1、线路2所示。在理想情况下,D2的反向恢复电流只由T1提供,D4的反向恢复电流只由T3提供。总之不希望左桥臂与右桥臂发生电流的交换。最好是,左右桥臂互不发生耦合。但实际装置中,假设
图10. 母线电感不对称引起发射极环流
并联IGBT间静态与动态性能的差异会影响均流,使得有效目标输出电流不得不被降额。通常,降额系数是根据最差的并联情况进行假定,但这种假设在实际应用中并不合理,且被过高估计,这也会增加客户设计成本。从统计角度方面,差异性很大的模块并联概率是很小的,且IGBT参数之间偏离可以忽略。从均流角度方面,并联设计好坏对降额起关键性的作用,且远大于IGBT自身参数差异性所引起的问题。因此,并联应重点考虑如何通过设计确保均流,而不是把重心放在模块参数偏离所造成的影响。
n个模块并联时,假设电流集中流过VCEsat最小的模块时的情况为最坏工况,通过使用并联数量为2时的电流不均衡度
使用2个模块的电流不均衡度为
通过Pspice软件对4个IGBT并联进行双脉冲实验的模型建模如图12,模拟并联IGBT回路上杂散电感进行仿真 [
图11. 10个IGBT模块并联降额曲线
图12. 双脉冲系统Pspice模型
图13. Pspice仿真双脉冲电流波形
IGBT均流样机测试:利用信号发生器模拟DSP给定PWM信号,测试开通关断过程中各个IGBT流过的电流。测试设备:信号发生器、直流电原、泰克5000示波器、双脉冲测试台架下图为测试波形。C1:Q1 Id1,C2:Q2 Id2,C3:Q3 Id3,C4:Q4 Id4,示波器设置为10 mV代表1 A,详细数值见表1。
器件序号 | A点测试电流值 | A点电流仿真值 | 仿真误差 | B点测试电流值 | B点电流仿真值 | 仿真误差 |
---|---|---|---|---|---|---|
Q1 | 38 A | 39.2 A | 3.1% | 76.0 A | 78.3 A | 3.0% |
Q2 | 38.3 A | 39.8 A | 3.9% | 75.2 A | 77.5 A | 3.1% |
Q3 | 40 A | 41.7 A | 4.3% | 76.4 A | 78.8 A | 3.1% |
Q4 | 38 A | 39.7 A | 4.4% | 69.2 A | 72.2 A | 4.3% |
表1. 标准试验系统结果数据
最后通过测试样机最大电流的实测数据和Pspice仿真数值(图14下)都在偏差在5%范围之内验证仿真模型的真实性。
图14. 样机最大电流的实测数据和Pspice仿真数值
本文分析了影响多个IGBT并联均流的相关因素,并阐述一些有助于设计并联的对策。同时,建立系统的Pspice模型并通过测试平台进行试验验证证明仿真和实测结果吻合。最后,对可靠性和将额提供了计算依据,可以为控制器初步方案定评最大程度地提供理论依据。
李大伟. IGBT单管并联研究与仿真Multiple Single-Tube IGBT Parallel Research and Simulation[J]. 电气工程, 2020, 08(01): 48-57. https://doi.org/10.12677/JEE.2020.81006