针对单输入单输出(SISO)离散时间系统,本文提出了基于交叉Gram矩阵的一阶必要条件。首先,应用交叉Gram矩阵,得到误差系统的H2范数;然后,根据交叉Gram矩阵所满足的Sylvester方程,得到了误差系统H2范数关于降阶系统系数矩阵的梯度;最后,根据误差系统H2范数的梯度,得到了基于交叉Gram矩阵的一阶必要条件。与此同时,得到降阶系统。 In this paper, the first-order necessary conditions based on the cross-Gramian are presented for the discrete-time Single-Input-Single-Output (SISO) systems. First, by using the cross-Gramian, the H2-norm of the error system is obtained. Then, according to the Sylvester equations satisfied by the cross-Gramian, the gradients are obtained with respect to the coefficient matrices of the reduced order system. Finally, due to the gradients of the H2-norm of the error system, the first-order necessary conditions based on the cross-Gramian are achieved. Meanwhile, the reduced order system is accordingly obtained.
王兆鸿,李延鹏
新疆大学数学与系统科学学院,新疆 乌鲁木齐
收稿日期:2018年4月4日;录用日期:2018年4月16日;发布日期:2018年4月24日
针对单输入单输出(SISO)离散时间系统,本文提出了基于交叉Gram矩阵的一阶必要条件。首先,应用交叉Gram矩阵,得到误差系统的H2范数;然后,根据交叉Gram矩阵所满足的Sylvester方程,得到了误差系统H2范数关于降阶系统系数矩阵的梯度;最后,根据误差系统H2范数的梯度,得到了基于交叉Gram矩阵的一阶必要条件。与此同时,得到降阶系统。
关键词 :模型降阶方法,交叉Gram矩阵,一阶必要条件,离散时间系统
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近年来,描述大型或复杂动力系统方程的维数不断提高,给工程人员的理论分析和仿真模拟带来了巨大的挑战。长期以来,研究人员一直致力于寻求能够降低原始系统的维数,并且可以保持原始系统的结构特性、稳定性和无源性等性质的方法。模型降阶方法就是一种构造低阶近似系统的方法。它可以降低对大规模系统的理论分析难度、计算损耗以及仿真模拟时间,因此,它被广泛应用于高新技术产业和工程技术领域。目前模型降阶方法已被广泛研究,如正交多项式模型降阶方法 [
离散系统的模型降阶方法已被越来越多的研究人员所关注。 [
最优H2模型降阶方法是一类重要的模型降阶方法,受到了许多研究人员的关注。 [
针对渐近稳定的 SISO 离散时间系统,本文提出了基于交叉Gram矩阵的H2最优模型降阶方法。首先,将误差系统的H2范数表示为交叉Gram矩阵的形式;然后,基于降阶系统系数矩阵的一阶扰动,我们得到了误差系统H2范数的梯度;最后,应用误差系统H2范数的梯度,我们提出了SISO离散时间系统基于交叉Gram矩阵的一阶必要条件,并由此得到降阶系统。为了求解降阶系统,我们用到了交叉Gram矩阵,这也为求解渐近稳定的SISO离散时间系统的降阶系统提供了方法。
考虑如下线性时不变SISO离散时间系统
Σ : { x k + 1 = A x k + B u k , y k = C x k , (1)
其中 A ∈ R n × n , B ∈ R n × 1 , C ∈ R 1 × n 分别是状态矩阵,输入和输出向量, u k , y k ∈ R 和 x k ∈ R n 分别代表了系统在时间 t k 处的输入,输出和状态。设初值 x 0 = 0 ,对系统(1)进行Z变换,我们得到传递函数
H ( z ) = C ( z I n − A ) − 1 B 。
如果A的所有特征值均在单位圆内,则称系统(1)是渐近稳定的。在以后的讨论中,我们始终假设(1)是渐近稳定且可控和可观的系统。
我们旨在构造渐近稳定且可控和可观的SISO降阶系统
Σ ^ : { x ^ k + 1 = A ^ x ^ k + B ^ u k , y ^ k = C ^ x ^ k ,
其中 A ^ ∈ R r × r , B ^ ∈ R r × 1 , C ^ ∈ R 1 × r 且 r ≪ n 。
H ( z ) 的H2范数可以被定义为
‖ H ( z ) ‖ H 2 2 = 1 2 π ∫ 0 2 π trace ( H * ( e i θ ) H ( e i θ ) ) d θ ,
其中 ( ⋅ ) * 代表共轭转置, trace ( ⋅ ) 表示矩阵的迹。由于系统(1)是SISO系统, trace ( H * ( e i θ ) H ( e i θ ) ) = | H ( e i θ ) | 2 。在下面的推导中,因为要用到迹的性质,所以迹没有省略。系统的H2范数也可以通过Gram矩阵表示为
‖ H ( z ) ‖ H 2 2 = trace ( B T Q B ) = trace ( C P C T ) = trace ( C R B ) ,
其中 P = ∑ t = 0 ∞ ( A t B ) ( A t B ) T 和 Q = ∑ t = 0 ∞ ( C A t ) T ( C A t ) 分别代表系统(1)的可控和可观Gram矩阵,并且满足Lyapunov方程
A P A T + B B T = P 和 A T Q A + C T C = Q
令 R = ∑ t = 0 ∞ ( A t B ) ( C A t ) 代表系统(1)的交叉Gram矩阵。R满足Lyapunov方程 [
B C + A R A = R ,
对于SISO系统, R 2 = P Q 成立。
构造误差系统
{ A e , B e , C e } = { [ A 0 0 A ^ ] , [ B B ^ ] , [ C − C ^ ] } ,
存在传递函数 E ( z ) = H ( z ) − H ^ ( z ) ,假设误差系统的交叉Gram矩阵 R e 存在分块形式 R e = [ R X Y R ^ ] ,并且满足Sylvester方程
B e C e + A e R e A e = R e 。
根据矩阵的分块形式,上式可以改写为
[ B B ^ ] [ C − C ^ ] + [ A 0 0 A ^ ] [ R X Y R ^ ] [ A 0 0 A ^ ] = [ R X Y R ^ ] 。 (2)
从上面的等式可以得到
B C + A R A = R ,
A X A ^ − B C ^ = X , (3)
B ^ C + A ^ Y A = Y , (4)
A ^ R ^ A ^ − B ^ C ^ = R ^ 。 (5)
误差系统的H2范数可由交叉Gram矩阵 R e 表示为
‖ E ( z ) ‖ H 2 2 = trace ( C e R e B e ) = trace ( [ C − C ^ ] [ R X Y R ^ ] [ B B ^ ] ) = trace ( C R B + C X B ^ − C ^ Y B − C ^ R ^ B ^ ) ,
由(4)和(3), trace ( C X B ^ ) 可改写为
trace ( C X B ^ ) = trace ( ( Y − A ^ Y A ) X ) = − trace ( B C ^ Y ) = − trace ( C ^ Y B ) 。
我们得到 E ( z ) 的H2范数
‖ E ( z ) ‖ H 2 2 = trace ( C R B + 2 C X B ^ − C ^ R ^ B ^ ) (6)
= trace ( C R B − 2 C ^ Y B − C ^ R ^ B ^ ) 。 (7)
我们已经得到了误差系统基于交叉Gram矩阵的H2范数。在接下来的讨论中,我们将应用上述H2范数的表达式,研究基于交叉Gram矩阵的一阶必要条件。
应用基于交叉Gram矩阵的H2范数表达式,我们将研究SISO离散时间系统基于交叉Gram矩阵的一阶必要条件。由前面的假设可知,原始系统 Σ 和降阶系统 Σ ^ 都是渐近稳定的时不变最小实现系统,则可以得到误差系统的H2范数关于 A ^ , B ^ 和 C ^ 的梯度。首先给出实标量函数关于实矩阵变量的梯度定义。
定义3.1 实标量函数 f ( X ) 的梯度是一个实矩阵 ∇ X f ( X ) ∈ R n × p ,被定义为 [
[ ∇ X f ( X ) ] i , j = d d X i , j f ( X ) , i = 1 , ⋯ , n , j = 1 , ⋯ , p ,
其中 X ∈ R n × p 。 f ( X + Δ ) 可以表示为
f ( X + Δ ) = f ( X ) + 〈 ∇ X f ( X ) , Δ 〉 + O ( ‖ Δ ‖ 2 ) ,
其中 〈 ∇ X f ( X ) , Δ 〉 = trace ( ( ∇ X f ( X ) ) T Δ ) 。
应用上述定义以及Lyapunov方程,我们可以得到误差系统H2范数关于降阶系统系数矩阵的梯度。
定理3.2 令 J ( A ^ , B ^ , C ^ ) = ‖ E ( z ) ‖ H 2 2 ,则 J ( A ^ , B ^ , C ^ ) 的梯度 ∇ A ^ J , ∇ B ^ J 和 ∇ C ^ J 分别为
∇ A ^ J = 2 ( Y A X + R ^ A ^ R ^ ) T , ∇ B ^ J = 2 ( C X − C ^ R ^ ) T 和 ∇ C ^ J = − 2 ( R ^ B ^ + Y B ) T ,
其中 R ^ ,X和Y满足方程(3)~(5)。
证明:首先计算 ∇ A ^ J 。将 A ^ 扰动到 A ^ + Δ A ^ ,相应地,X,Y和 R ^ 分别被扰动为 X + Δ X , Y + Δ Y 和 R ^ + Δ R ^ ,它们满足
[ B B ^ ] [ C − C ^ ] + [ A 0 0 A ^ + Δ A ^ ] [ R X + Δ X Y + Δ Y R ^ + Δ R ^ ] [ A 0 0 A ^ + Δ A ^ ] = [ R X + Δ X Y + Δ Y R ^ + Δ R ^ ] 。 (8)
将(8)和(2)做比较,我们可以得到 Δ X , Δ Y 和 Δ R ^ 满足方程
A ^ Δ Y A + Δ A ^ Y A = Δ Y ,
A X Δ A ^ + A Δ X A ^ = Δ X , (9)
A ^ R ^ Δ A ^ + A ^ Δ R ^ A ^ + Δ A ^ R ^ A ^ = Δ R ^ 。 (10)
应用 E ( z ) 的H2范数表达式(6),则关于 A ^ 的一阶扰动 Δ J 可以表示为
Δ J = J ( A ^ + Δ A ^ , B ^ , C ^ ) − J ( A ^ , B ^ , C ^ ) = trace ( C R B + 2 C ( X + Δ X ) B ^ − C ^ ( R ^ + Δ R ^ ) B ^ ) − trace ( C R B + 2 C X B ^ − C ^ R ^ B ^ ) = 2 trace ( C Δ X B ^ ) − trace ( C ^ Δ R ^ B ^ ) .
应用(4)和(9), trace ( C Δ X B ^ ) 可以表示为
trace ( C Δ X B ^ ) = trace ( Δ X ( Y − A ^ Y A ) ) = trace ( Y ( Δ X − A Δ X A ^ ) ) = trace ( Y A X Δ A ^ ) 。
由(5)和(10),我们得到
trace ( C ^ Δ R ^ B ^ ) = trace ( Δ R ^ B ^ C ^ ) = trace ( Δ R ^ ( A ^ R ^ A ^ − R ^ ) ) = − trace ( R ^ ( Δ A ^ R ^ A ^ + A ^ R ^ Δ A ^ ) ) = − 2 trace ( R ^ A ^ R ^ Δ A ^ ) 。
因此, Δ J = 2 trace ( Y A X Δ A ^ + R ^ A ^ R ^ Δ A ^ ) = 2 trace ( ( Y A X + R ^ A ^ R ^ ) Δ A ^ ) = 2 〈 ( Y A X + R ^ A ^ R ^ ) T , Δ A ^ 〉 ,进一步,我们有
∇ A ^ J = 2 ( Y A X + R ^ A ^ R ^ ) T 。
接下来我们通过扰动 C ^ 到 C ^ + Δ C ^ 计算 ∇ C ^ J 。相应地,X和 R ^ 将分别被扰动为 X + Δ X 和 R ^ + Δ R ^ ,并且它们满足
[ B B ^ ] [ C − C ^ − Δ C ^ ] + [ A 0 0 A ^ ] [ R X + Δ X Y R ^ + Δ R ^ ] [ A 0 0 A ^ ] = [ R X + Δ X Y R ^ + Δ R ^ ] 。 (11)
将(11)和(2)做比较,可以得到 Δ C ^ , Δ X 和 Δ R ^ 满足
A Δ X A ^ − B Δ C ^ = Δ X ,
A ^ Δ R ^ A ^ − B ^ Δ C ^ = Δ R ^ 。 (12)
考虑 E ( z ) 的H2范数表达式(7)。关于 C ^ 的一阶扰动 Δ J 可以被表示为
Δ J = J ( A ^ , B ^ , C ^ + Δ C ^ ) − J ( A ^ , B ^ , C ^ ) = trace ( C R B − 2 ( C ^ + Δ C ^ ) Y B − ( C ^ + Δ C ^ ) ( R ^ + Δ R ^ ) B ^ ) − trace ( C R B − 2 C ^ Y B − C ^ R ^ B ^ ) = − trace ( C ^ Δ R ^ B ^ + Δ C ^ R ^ B ^ + 2 Δ C ^ Y B ) .
由(5)和(12),得到
trace ( C ^ Δ R ^ B ^ ) = trace ( Δ R ^ ( A ^ R ^ A ^ − R ^ ) ) = trace ( R ^ ( A ^ Δ R ^ A ^ − Δ R ^ ) ) = trace ( R ^ B ^ Δ C ^ ) 。
因此
Δ J = − trace ( C ^ Δ R ^ B ^ + Δ C ^ R ^ B ^ + 2 Δ C ^ Y B ) = − trace ( R ^ B ^ Δ C ^ + Δ C ^ R ^ B ^ + 2 Δ C ^ Y B ) = − 2trace ( ( R ^ B ^ + Y B ) Δ C ^ ) = − 2 〈 ( R ^ B ^ + Y B ) T , Δ C ^ 〉 .
进一步得到
∇ C ^ J = − 2 ( R ^ B ^ + Y B ) T 。
最后,类似于 ∇ C ^ J 的计算过程,J关于 B ^ 的梯度
∇ B ^ J = 2 ( C X − C ^ R ^ ) T
成立。综上所述,定理结论成立。证毕。
在定理3.2中,我们得到了误差系统H2范数关于 A ^ , B ^ 和 C ^ 的梯度。在接下来的讨论中,我们将研究基于交叉Gram矩阵的一阶必要条件,以及构造相应的降阶系统。
定理3.3 设在J的每一个稳定点处 R ^ 可逆,则
A ^ = W T A V , B ^ = W T B 和 C ^ = C V ,
其中 W T = − R ^ − 1 Y , V = X R ^ − 1 且 W T V = I r 。X,Y和 R ^ 满足Sylvester方程(3)~(5)。
证明:因为J在稳定点处关于 A ^ , 和 C ^ 的梯度为零,所以
∇ A ^ J = 2 ( Y A X + R ^ A ^ R ^ ) T = 0 , ∇ C ^ J = − 2 ( Y B + R ^ B ^ ) T = 0 和 ∇ B ^ J = 2 ( C X − C ^ R ^ ) T = 0
成立。由于 R ^ 可逆,有
A ^ = − R ^ − 1 Y A X R ^ − 1 , B ^ = − R ^ − 1 Y B 和 C ^ = C X R ^ − 1 。
于是,我们定义 W T = − R ^ − 1 Y , V = X R ^ − 1 。下证, W T V = I r 成立。
在(4)的左右两边同时右乘X,得到
B ^ C X + A ^ Y A X = Y X 。 (13)
由于 C X = C ^ R ^ , Y A X = − R ^ A ^ R ^ ,(13)可以被改写为
B ^ C ^ R ^ − A ^ R ^ A ^ R ^ = Y X 。 (14)
在(14)的左右两边同时右乘 R ^ − 1 ,得到
B ^ C ^ − A ^ R ^ A ^ = Y X R ^ − 1 。 (15)
将(15)与(5)做比较,得到 Y X R ^ − 1 = − R ^ 。进一步, R ^ 2 + Y X = 0 ,则
W T V = − R ^ − 1 Y X R ^ − 1 = I r
成立。综上所述,定理结论成立。证毕。
定理3.3的结论表明了 A ^ , B ^ 和 C ^ 是关于 R ^ ,X和Y的函数,即
{ A ^ , B ^ , C ^ } = { − R ^ − 1 Y A X R ^ − 1 , − R ^ − 1 Y B , C X R ^ − 1 } ,
其中 R ^ ,X和Y可以通过Sylvester矩阵方程(3)~(5)得到。这为求解渐近稳定的SISO离散时间系统的降阶系统提供了方法。
针对渐近稳定的 SISO 离散时间系统,本文提出了基于交叉Gram矩阵的H2最优模型降阶方法。首先,我们推导了基于误差系统交叉Gram矩阵的H2范数;然后,研究了误差系统的H2范数关于降阶系统系数矩阵的一阶扰动;最后,根据一阶扰动的表达式,得到了误差系统的H2范数关于降阶系统系数矩阵的梯度,以及基于交叉Gram矩阵的一阶必要条件。降阶系统可由一阶必要条件构造。在求解降阶系统的过程中,我们用到了交叉Gram矩阵,这也为求解渐近稳定的SISO离散时间系统的降阶系统提供了方法。
王兆鸿,李延鹏. 基于离散时间系统交叉Gram矩阵的H2最优模型降阶方法 H2Optimal Model Order Reduction Method Based on the Cross-Gramian for Discrete-Time Systems[J]. 应用数学进展, 2018, 07(04): 316-322. https://doi.org/10.12677/AAM.2018.74038
https://doi.org/10.1016/j.apm.2016.02.015
https://doi.org/10.1109/TAC.1981.1102568
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https://doi.org/10.1049/piee.1970.0227
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